QMG 700 分析質譜儀 

超越檢測極限且達到優異的穩定性和細微的分辨率 

半導體制造技術的快速發展有賴于靈敏而可靠的氣體分析解決方案。在工廠或實驗室中，選擇 INFICON QMG 700 分析質譜儀以突破檢測極限，推動工藝革新，提升工藝水平。QMG 700 的模塊化設計帶來無可比擬的性能和適應性。利用 QMG 700 增強競爭優勢，獲得出眾的測量能力。

根據具體的應用要求，選擇配制合適的離子源、濾質器和射頻電源，可量身定制QMG 700。QMG 700有超過九個數量級的動態測量量程，達到ppb 檢測量級，這種優勢使其成為超高真空測量的理想選擇。QMG 700 對整個質量范圍都有很高的分辨率，對較低的質量可獲得更高的分辨率。對于某些非常具挑戰性的測量應用，如同位素分析，氦和氘分離等，QMG 700是極好的選擇。QMG 700 出色的長期穩定性可保證關鍵性的測量，有效控制您的工藝。

INFICON 在分析質譜儀領域五十多年的歷史和遙遙率先的技術，確保QMG 700 成為進行 氣體分析的正確選擇。依賴 INFICON QMG 700 以及我們享譽世界的應用專長，您可獲得始終如一的高精度測量數據。

功能

• 質量范圍選擇為 1-2048 amu
• 超過九個數量級的動態量程
• 極快的測量速度：0.125 ms/amu
• MDPP < 10E-16 mbar

• 涵蓋整個質量范圍的高分辨率：質量 1、2 和 3 可在 ppb 范圍內清晰地分離

• 超過 10 個不同的離子源和離子光學組合
• 離散或連續倍增電極電子倍增器選件
• 用于正負離子以及中性粒子分析的離子計數前置放大器
• IO 選項：8 個模擬輸入/輸出和 32 個數字輸入/輸出
• 軟件功能強大，靈活實用且具友好的用戶界面

• QMG 700 分析質譜儀 (AMS) 是適合以下應用的成熟解決方案：氣體排放質譜分析，終點檢測，沉積材料監控，二次離子質譜分析